Pela primeira vez realizado no continente Americano o “International Symposium on Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry”, em sua quinta edição, reuniu em Florianópolis 144 pesquisadores de 14 países entre os dias 13 e 15 de Outubro de 1999.

Promovido pelo IMEKO – Confederação Internacional de Metrologia, pela Sociedade Brasileira de Metrologia e pela SPIE – Sociedade Internacional de Engenharia Óptica, o evento foi patrocinado pelo CNPq, CAPES e pelas empresas Mercedez Bens do Brasil, Siemens, Embraco e Hewllet Packard.

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O simpósio foi inteiramente realizado no Costão do Santinho Resort, na Praia do Santinho em Florianópolis, SC. A agenda diurna do simpósio foi preenchida com a apresentação de palestras convidadas e dos trabalhos espontâneos. Em paralelo ao simpósio, realizou-se também o Engineering Display, uma exposição de produtos e serviços relacionados com a área de medição a laser, que contou com a participação de importantes empresas do setor. Após o encerramento oficial do simpósio também foram realizadas visitas técnicas à Universisdade Federal de Santa Catarina, à Fundação CERTI e à incubadora tecnológica CELTA, em Florianópolis e ao Laboratório Nacional de Metrologia do INMETRO em Xerem, RJ.

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International Program Committee

 

• Pfeifer T. / RWTH Aachen - Germany (chair)

• Albertazzi, A. / UFSC - Brazil (co-chair)

• Finkelstein, L/City U. - U.K.

• Hasche, K. / PTB - Germany

• Kauffmann, G. /U. Rosario – Argentina

• Leopold, J./IWQ - Germany

• Lira, I. /PUC - Chile

• Osten, W./BIAS - Germany

• Ozono, S. /U. Tokyo - Japan

• Potzick, J./NIST – USA

• Sacconi, A. / IMGC - Italy

• Sciammarella, C./IIT – USA

• Stone, J./NIST - USA

• Stout, K./U. Huddersfield - U. K.

• Torroba, R./CIOP – Argentina

 

National Organizing Committee:

 

• Albertazzi, A. / UFSC, (chair)

• Schneider, C. A. / CERTI (co-chair)

• Araújo, C. / UFPe

• Caiado, J./USP

• Cavaco, M./UFSC

• Frejlish, J. / UNICAMP

• Frota, M. N. / INMETRO

• Horowitch, F. / UFRGS

• Hrebabetzky, F./UFSC

• Muramatsu, M. / USP

• Titov, A. / INMETRO

 

 

TOPICS

 

Measurands:

• Measurement of geometrical quantities (length, position, displacement and angle)

• Measurement of deviation from straightness, roundness, flatness and orthogonality

• Measurement of microgeometrical quantities (roughness, profile)

• Measurement of motion, velocity and vibration

• Measurement of mechanical quantities (pressure, force, strain, stress, torque)

• Absolute interferometric measurement

 

Measurement techniques:

• Holographic interferometry

• Speckle metrology

• Shearing interferometry

• Triangulation techniques

• Doppler techniques

• Heterodyne techniques

• Laser RADAR

• Direct optical probing of rough surfaces

• Moiré methods

• Interferometric sensors

• Fiber optics sensor

 

Application of innovative components and techniques:

• Application of novel laser designs (multi-wavelength laser, stabilized diode laser, diode-pumped solid state laser)

• Application of special optical components (fast optical scanning systems, difractive optics, holographic optical elements, microoptics, fiber optics, integrated optics, optical data processing, hybrid methods, smart sensors, automated inspection systems)

 

Applications on Geometrical Metrology and Non Destructive Testing:

• Nanometrology

• Metrology for robotics and manufacturing processes

• 3D-measurement of the shape of complex objects

• Automatic on-line data processing

• Automated inspection

• Surface defects

• Error analysis of machine tools and components

• Manufacturing integrated measurement

• Nondestructive testing

• Experimental stress analysis

 

Capability of laser-based measurement instruments:

• Reference standards

• Calibration tecniques

• Traceabillity

• Uncertainty modeling

• Unification of modeling simulation with metrology