Eventos
A denominação “speckle” é atribuída a um efeito particular da luz do laser que confere a uma superfície iluminada um aspecto granular com distribuição aleatória e relacionada com a rugosidade superficial. Esse efeito possui diversas aplicações na metrologia óptica. É possível usar as propriedades ópticas do speckle para medir deslocamentos, deformações, tensões, tensões residuais, escoamento de fluidos, secagem de tintas, atividades biológicas, detecção de defeitos, formas 3D, desgaste, rugosidade etc. São sempre medições sem contato e realizadas muito rapidamente.
A presidência do Speckle 2010 foi realizada pelo Prof. Armando Albertazzi Gonçalves Júnior, do Departamento de Engenharia Mecânica da Universidade Federal de Santa Catarina. O Prof. Guillermo Kaufmann do Departamento de Física da Universidade de Rosário, Argentina foi coordenador honorário.
Comitê Organizador Local
O comitê organizador local do evento foi formado pelos seguintes colaboradores do Labmetro – Laboratório de Metrologia e Automatização, do Departamento de Engenharia Mecânica da UFSC:
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Dra. Analucia Vieira Fantin,
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Dr. Matias Roberto Viotti,
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Dr. Daniel Pedro Willeman,
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David Pedro Willeman
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Rosana Magali Vieira
Figura 1: Comitê Organizador do Labmetro/UFSC
O comitê científico internacional foi formado por 40 especialistas de 26 países internacionalmente reconhecidos por suas contribuições no campo da medição do Speckle. Eles contribuíram com a divulgação do evento em seus países e colaboraram no processo de avaliação dos resumos e trabalhos submetidos ao evento:
Oleg Angelsky (Ucrânia), Anand Asundi (Singapura), Antonio Baldi (Itália), Christian D. Depeursinge (Suíça), Joris Dirckx (Bélgica), Angel F. Doval (Espanha), Pietro Ferraro (Itália), Kay Gastinger (Noruega), Emmanuel E. Gdoutos (Grécia), Joseph W. Goodman (USA), Erwin Hack (Suíça), Klaus Hinsch (Alemanha), Michael Y. Y. Hung (Hong Kong), Jonatahn M. Huntley (UK), Pierre Jacquot (Suíça), Werner Jüptner (Alemanha), Seung-Woo Kim (Coréia), Malgorzata Kujawinska (Polônia), Fernando Mendoza Santoyo (México), Nandingana Krishna Mohan (Índia), Mikiya Muramatsu (Brasil), Wolfgang Osten (Alemanha), Pascal Picart (França), Ryszard J. Pryputniewicz (USA), Juan A. Quiroga (Espanha), Pablo D. Ruiz (UK), Joanna Schmit (USA), Chandra Shakher (Índia), Mikael Sjödahl (Suécia), Pierre Slangen (França), Mitsuo Takeda (Japão), Ralph Tatam (UK), Vincent Toal (Irlanda), Luciano Angel Toro (Colômbia), Jim Trolinger (USA), Steve Vanlanduit (Bélgica), Mario Vaz (Portugal), Ramon Rodriguez Vera (México), Toyohiko Yatagai (Japão), Yan Zhang (China).
O congresso foi inteiramente realizado no Costão do Santinho Resort, em Florianópolis, onde foi hospedada a maioria dos participantes. Seguiu estritamente o programa técnico e social planejado, sem que nenhuma alteração fosse necessária. Iniciou com a retirada do material na secretaria do evento no início da tarde do domingo 12 de setembro e fechou com a sessão de encerramento no final da tarde do dia 15 de Setembro de 2010.
As palestras convidadas trouxeram informações atualizadas sobre as novidades e tendências na área. Iniciaram com a palestra de abertura do Prof. James Wyant. Além de pesquisador reconhecido por seus trabalhos em metrologia óptica é o atual presidente da OSA – Optical Society of America (Fig. 1 Esquerda). Na sua palestra fez uma apresentação geral sobre as várias aplicações da metrologia speckle, incluindo os últimos avanços com a medição instantânea de fase usando elementos ópticos difrativos e máscaras pixeladas. O segundo palestrante convidado foi o Prof. Ryszard Pryputniewicz, do Worcester Polytechnic Institute, Massachusetts, um grande líder na área de métodos ópticos aplicados à nanotecnologia (Fig. 1 direita). Fez uma palestra sobre os últimos avanços e tendências da metrologia óptica usando o efeito speckle e suas aplicações na nanotecnologia.
Figura 2. Esquerda: Palestra de abertura do Prof. James Wyant (EUA). Direita: Palestra do Prof. Ryszard Pryputniewicz (EUA)
O segundo palestrante convidado foi o Prof. Ryszard Pryputniewicz, do Worcester Polytechnic Institute, Massachusetts, um grande líder na área de métodos ópticos aplicados à nanotecnologia (Fig. 1 direita). Fez uma palestra sobre os últimos avanços e tendências da metrologia óptica usando o efeito speckle e suas aplicações na nanotecnologia.
Figura 3. Palestrantes convidados: Esquerda Dra. Nadya Reingand (EUA), Centro Prof. Mitsuo Takeda (Japão) e direita Prof. Woalfgang Osten (Alemanha)
Tiveram 49 trabalhos orais apresentados e sessão de pôsters, que foi realizada no final do dia 14 de setembro.
Figura 4. Sessão de Pôsters
A organização do congresso outorgou dois prêmios e duas honrarias:
(a) Nomeação de Fellow da Optical Society of America concedido ao Prof. Guillermo Kaufmann em cerimônia realizada no último
dia do evento, quando este recebeu das mãos do Prof. James Wyant certificado comemorativo. (parte esquerda da figura 5).
(b) Nomeação do Prof. Fernando de Mendonza Santoyo para a Ordem dos Holoknights que passou a ser chamado de Sir Ferdando
of León. A cerimônia foi realizada no dia 13 de Setembro durante o jantar, concedida por Lady Nadya of San Petersburg. (parte
direita da Figura 5)
Figura 5. Esquerda: entrega do certificado de Fellow da OSA a Guillermo Kaufman. Direita: nomeação de Fernando de Mendonza Santoyo .
(c) Prêmio Jim Burch-Tony Ennos, concedido ao melhor trabalho apresentado no evento. Os trabalhos envolvidos foram julgados
por um comitê especial de membros do Comitê Científico no dia 15 de Setembro. A entrega do prêmio foi realizada no último dia
do evento e o prêmio foi entregue para o trabalho: “Portable Profilometer Based on Low Coherence Interferometry and Smart
Pixel Camera”. Autores: L. Salbut, A. Pakula, S. Tomczewski, and A. Styk. Warsaw University of Technology, Institute of
Micromechanics and Photonics, Varsóvia, Polônia. A figura 6 mostra a entrega do prêmio para um dos autores: A. Styk.
O prêmio foi entregue pelo Prof. Guillermo Kaufmann.
Figura 6. Entrega do prêmio Jim Burch-Tony Ennos Prof. Armando Albertazzi (esquerda). Prof. Guillermo Kaufmann (meio). Adam Styk (direita).
(d) Prêmio ao melhor trabalho apresentado por estudante, outorgado pela SPIE e a OSA. Os trabalhos que envolvem estudantes
foram julgados por um comitê especial de membros do Comitê Científico no dia 15 de Setembro. A entrega do prêmio foi
realizada no último dia do evento. Três trabalhos foram escolhidos: (1) Primeiro prêmio: “Speckle Characteristics of a Laser
Projector Using Nonmodal Laser Emission of a Semiconductor Laser”. G. Craggs, F. Riechert, Y. Meuret, H. Thienpont, J.
Danckaert, U. Lemmer, and G. Verschaffelt - Vrije Univ. Brussel, Belgium; Univ. Karlsruhe, Germany and Karlsruhe Institute of
Technology, Germany. A Fig. 8 mostra a entrega do prêmio para o aluno G. Craggs sendo entregue pelo presidente da OSA.
(2) Segundo prêmio: “A Combined Experimental with Simulation Approach to Calibrated 3D Strain Measurement Using
Shearography”. D. T. Goto and R. M. Groves. Delft University of Technology, Optical Non-Destructive Testing Laboratory, Faculty
of Aerospace Engineering, Delft, The Netherlands and Mechanical Engineering Department, Universidade Federal de Santa
Catarina, Florianópolis, Brazil. A Fig. 7 mostra a entrega do prêmio para o aluno D. Goto pelo Prof. Ryszard Pryputniewicz,
presidente da SEM. (3) O terceiro prêmio foi entregue para o trabalho: “Stress Distribution by Laser Speckle and Finite Element
Analysis in Abfraction Lesion in Under Central Incisor Tooth”. M. Muramatsu, M. Mori, K. Matsuda, M.A.P.A. Lopez, I. A. V. P.
Poiate, and E. Poiate Jr. Departmento de Física da University of São Paulo, Brazil. A Fig. 9 mostra a entrega do prêmio para o
aluno M.AP.A. Lopez sendo feita pelo Prof. Mitsuo Takeda, presidente da Optical Society of Japan.
Figura 7. Entrega do primeiro prêmio para estudante. Prof. James Wyant (direita). Gordon Craggs (esquerda).
Figura 8. Entrega do segundo prêmio para estudante. Prof. Ryszard Pryputniewicz (direita). Dênis .T. Goto (esquerda).
Figura 9. Entrega do terceiro prêmio para estudante. Prof. Mitsuo Takeda (direita). Márcio A.P.A Lopez (esquerda).
A qualidade dos participantes do evento, reunindo pesquisadores de destaque de 21 países, o nível elevados técnico das palestras, a presença de todos os apresentadores orais e a organização impecável, fizeram do Speckle 2010 ser avaliado por alguns dos participantes como a melhor edição do evento jamais realizada.
Fica então a sensação de dever bem cumprido e os agradecimentos às pessoas e entidades que contribuíram e tornaram possível o grande sucesso do evento, destacando-se o CNPq, a CAPES, a FAPESC, a SPIE, a OSA, a EOA, a SEM, a CIDEPE, a Charis, ABENDI, a CERTI, os membros do Comitê Científico Internacional, o Comitê Organizador local, a empresa Ivan Coelho eventos e o pessoal de apoio do Costão do Santinho Resort. Finalmente, a figura 12 mostra a fotografia do grupo obtida no último dia do evento.
Figura 10. Foto do grupo de participantes do evento.